量測範圍100 mm´100 mm´ 8 mm，解析度 1 nm，可用來量測奈米等級標準件(如線距)
使用很尖銳探針，非常接觸物體表面時，會產生凡得瓦力；針對奈米等級物體進行掃描，調整探針高低位置，使得每一位置產生之凡得瓦力值相同，此時探針之高低位置，即為物體對應之外形高度值，彙整所有高度值，便可量測出物體形貌。
本件文物原為財團法人工業技術研究院量測技術發展中心所有，是量測技術發展中心（辦理國家度量衡標準實驗室，已建立長度、電量/電磁量、動態工程、光輻射等研究室，提供產業界校正等服務）於標準與法定計量技術等領域發展的物質見證。
Atomic Force microscope
機械類
1987
Surface Imaging Systems GmbH
金屬
量測範圍100 mm´100 mm´ 8 mm，解析度 1 nm，可用來量測奈米等級標準件(如線距)。
更新日期：1/13/2026 1:29:50 AM